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DX-50霍尔效应测试系统
DX-50霍尔效应测试系统适用于研究半导体器件和半导体材料电学特性。 实验结果由软件自动计算得到,可同时得到体载流子浓度、表面载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数、磁致电阻等等参数。霍尔效应系统由电磁铁、高精度电源、连接电缆、高精度恒流源、高精度电压表、高斯计、标准样品、样品安装架、系统软件组成。 -
DX-100霍尔效应测试系统
DX-100霍尔效应测试系统可分为常温,高温,低温,高低温霍尔效应测试系统;用于测量半导体材料的载流子浓度、迁移率、电阻率、霍尔系数等重要参数;霍尔效应测试系统是理解和研究半导体器件和半导体材料电学特性必备的工具。 -
DX-3000霍尔效应测试系统
DX-3000霍尔效应测试系统是集霍尔效应、磁阻、I-V特性等测试于一体的全自动化测试系统。磁场根据用户需要采用电磁铁或无液氦超导磁体, 配备灵巧的测量样品杆,加上全自动化的专用测试软件,能让用户快速方便地进行样品测试,并获得准确可靠的数据。此外、系统还有多种低件,并可以根据用户现有的仪表和对软件的特殊要求进行特殊改造, 是广大科研工作者对样品进行电输运性质研究的有力工具。
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